Artesis Plantijn Hogeschool Antwerpen
Wetenschap en Techniek
campus Spoor Noord Ellermanstraat
Ellermanstraat 33 - 2060 Antwerpen
wt@ap.be
Cartografie en fotogrammetrie 512257/1596/1819/1/61
Studiegids

Cartografie en fotogrammetrie 5

12257/1596/1819/1/61
Academiejaar 2018-19
Komt voor in:
  • Bachelor in het vastgoed, trajectschijf 3
    Afstudeerrichting:
    • landmeten
Dit is een enkelvoudig opleidingsonderdeel.
Studieomvang: 3 studiepunten
Men kan dit opleidingsonderdeel niet volgen binnen een
  • examencontract (met het oog op het behalen van een creditbewijs).
  • examencontract (met het oog op het behalen van een diploma).
Titularis: Bens Tim
Onderwijstalen: Nederlands
Kalender: Module 1 + Module 2
Dit opleidingsonderdeel wordt gequoteerd op 20 (tot op een geheel getal).
Mogelijke grensdata voor leerkrediet: 15.10.2018 (1ste semester)
Tweede examenkans: wel mogelijk.
Tolereerbaarheid: Dit opleidingsonderdeel komt in aanmerking voor tolerantie onder de voorwaarden van de opleiding waarvoor je bent ingeschreven.
Totale studietijd: 78,00 uren

Volgtijdelijkheid

Op dit opleidingsonderdeel is er geen volgtijdelijkheid van toepassing.

OLR-Leerdoelen (lijst)

Vlot, gepast en helder commercieel communiceren (o.a. rapporteren) met (potentiële) klanten en zich meertalig kunnen uitdrukken in een professionele context
De student kan het vakjargon gebruiken
Zelfstandig landmeetkundige meettechnieken - met aandacht voor precisie, nauwkeurigheid en betrouwbaarheid - selecteren en toepassen en verwerken van de meetgegevens. Informatie verzamelen, interpreteren en verwerken met behulp van landinformatiesystemen en geografische informatiesystemen. De terreingegevens numeriek en grafisch verwerken en juridisch en administratief refereren.
De student kan begrippen ivm algemene geodesie, vorm van de aarde en plaatsbepaling, beschrijven en theoretisch en rekenkundig verklaren.
De student kan de algemene methodes en belangrijkste begrippen uit de stereoscopie, terrestrische en luchtfotogrammetrie beschrijven
De student kan de belangrijkste mondiale referentiesystemen beschrijven
De student kan de geschiedenis van de cartografie beschrijven
De student kan de stellingen van kaartvervormingen opstellen en afleiden
De student kan de verschillende projectiesystemen modelleren
De student kan relevante berekeningen op een bol in een sferisch en geografisch coordinatentelsel maken in verschillende eenheden waarin hoeken kunnen worden uitgedrukt.
De student kan uitleggen hoe een topografische kaart wordt opgemaakt
De student kan gebruik maken van software om een set lucht- of terrestrische foto's te verwerken tot een puntenwolk en deze te bewerken

Leerinhoud

1. Cartografie:
    * Bespreking van de verschillende soorten kaarten
    * De geschiedenis van de cartografie (ev. Uitstap Mercatormuseum)

    * Basis boldriehoeksmeetkunde
    * Opmaak van de topografische basiskaart
    * Vervormingsleer: stelling van Tissot, meetkundige eigenschappen van een kaartprojectiesysteem
    * Overzicht van een aantal projectiesystemen en globale referentiesystemen
    * Opstellen van voorwaartse en achterwaartse formules van enkele projecties
    * Kaartgeneralisatie

2. Fotogrammetrie:
    * Terrestrische fotogrammetrie
    * Stereoscopie
    * Restitutie van een beeldpaar (evenwijdige vizierlijnen)
    * Eigenschappen van een meetcamera
    * Fotogrammetrische software: werking, gebruik en verwerking tot puntenwolk en bewerkingen op  puntenwolken

Studiematerialen (tekst): Verplicht

Cursus aangeboden door de titularis + cursusdocumenten op elektronisch leerplatform.

ev. Inhoud bezoek aan Mercatormuseum

Studiematerialen (tekst): Aanbevolen

HANDBOEK:
- De Maeyer, P.. Inleiding tot de cartografie. Gent: Academiapress.
- Depuydt, F.. Van Mercator tot computerkaart. Turnhout: Brepols.
- Inleiding tot de fotogrammetrie ten behoeve van cartografen. Brussel: N.G.I.
- Shilling, G. Jaarboek sterrenkunde 2008 en 2009. Fontaine.
- Moore Luitingh, P. . Guiness book of astronomy. Utrecht.
- Penston, M. Astronomie. Azur.

Onderwijsorganisatie

Examentijd
Voorziene tijd voor toetsing2,50 uren
Werkvormen
Hoor- en/of werkcolleges28,00 uren
Werkplekleren en/of stage2,00 uren
Werktijd buiten de contacturen45,50 uren

Toetsing (lijst)

Evaluatie(s) voor de eerste examenkans
MomentVorm%Opmerking
AcademiejaarKennistoets70,00Toetsmedium: schriftelijk examen (gesloten boek)
Toetsmoment: momentopname op examen
Beoordelaar: lector(en)
AcademiejaarVaardigheidstoets hands on30,00Toetsmedium: open boekDigitaal examenToetsmoment: in M2 week 7Beoordeling door lector(en)
Evaluatie(s) voor de tweede examenkans
MomentVorm%Opmerking
Tweede examenperiodeKennistoets70,00Toetsmedium: schriftelijk examen (gesloten boek)
Toetsmoment: momentopname op examen
Beoordeling door lector(en)
Tweede examenperiodeVaardigheidstoets hands on30,00Toetsmedium: open boekDigitaal examenToetsmoment: momentopname op examenBeoordeling door lector(en)

Toetsing (tekst)

De student die omwille van medische redenen of overmacht de vaardigheidstoets  hands on van 30% mist, kan die inhalen onder de hierna volgende voorwaarden:
• De student registreert zijn afwezigheid op het deelexamen in iBaMaFlex ten laatste op de dag van het gemiste deelexamen via de module ‘mijn afwezigheden’ met als reden ‘aanvraag inhaalmoment’
• de student bewijst de reden van zijn afwezigheid op een deelexamen waarvoor hij een inhaalexamen wil aanvragen met een geldig medisch attest, zoals omschreven onder begripsbepaling van het onderwijs- en examenreglement, of het nodige bewijsmateriaal voor de overmachtssituatie.

•De student die voldoet aan de voorwaarden voor deelname aan een inhaalexamen kan op de dag van het inhaalexamen het deelexamen doen.